正確使用漆膜測厚儀的方法
點(diǎn)擊：497 日期：2019/3/7 14:54:12
正確使用漆膜測厚儀的方法
漆膜測厚儀又稱膜厚儀、鍍層測厚儀或涂層測厚儀。主要針對金屬基材上面的涂鍍層厚度測試。漆膜測厚儀用磁性傳感器測量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。
漆膜測厚儀——原理方法
磁性測厚法
適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量，導(dǎo)磁材料一般為:鋼鐵銀鎳.此種方法測量精度高。
渦流測厚法
適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量，此種方法較磁性測厚法精度低。
超聲波測厚法
此種方法測量涂鍍層厚度的應(yīng)用較少，國外個別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合，但一般價格昂貴測量精度也不高。
電解測厚法
此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高，測量起來較其他幾種麻煩。
放射測厚法
此種儀器價格非常昂貴(一般在10萬RMB以上)，適用于一些特殊場合。
漆膜測厚儀 - 影響因素
基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用和試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率和其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用和試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。
邊緣效應(yīng)
儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。
磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。
附著物質(zhì)
儀器對那些妨礙測頭和覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使測頭和試樣表面保持垂直。
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